Kiel vida inspekta teknologio, bilda mezurado teknologio bezonas realigi kvantan mezuradon.Mezura precizeco ĉiam estis grava indekso traktita de ĉi tiu teknologio.Bildaj mezursistemoj kutime uzas bildsensil-aparatojn kiel ekzemple CCD-oj por akiri bildajn informojn, konverti ilin en ciferecajn signalojn kaj kolekti ilin en komputilon, kaj tiam uzi bildpretigteknologion por prilabori ciferecajn bildsignalojn por akiri diversajn bildojn postulatajn.Kalkulo de grandeco, formo kaj poziciaj eraroj estas atingita uzante alĝustigteknikojn por konverti bildgrandecajn informojn en la bilda koordinatsistemo al realgrandecinformoj.
En la lastaj jaroj, pro la rapida disvolviĝo de la industria produktadkapablo kaj la plibonigo de la pretiga teknologio, aperis granda nombro da produktoj de du ekstremaj grandecoj, nome granda kaj malgranda grandeco.Ekzemple, mezuri la eksterajn dimensiojn de aviadiloj, mezuri ŝlosilajn komponentojn de granda maŝinaro, EMU-mezurado.Kritika dimensia mezurado de mikrokomponentoj La tendenco al miniaturigo de diversaj aparatoj, mezurado de kritikaj mikrodimensioj en mikroelektroniko kaj bioteknologio ktp., ĉiuj alportas novajn taskojn por testi teknologion.Bilda mezurteknologio havas pli larĝan mezuran gamon.Estas sufiĉe malfacile uzi tradiciajn mekanikajn mezuradojn sur grandaj kaj malgrandaj skaloj.Bilda mezurteknologio povas produkti certan proporcion de la mezurita objekto laŭ la precizecaj postuloj.Zomi malproksimigi aŭ zomi por plenumi mezurajn taskojn ne eblajn kun mekanikaj mezuradoj.Tial, ĉu ĝi estas supergranda mezurado aŭ malgrandskala mezurado, la grava rolo de bilda mezurado teknologio estas evidenta.
Ĝenerale, ni rilatas al partoj kun grandecoj de 0.1mm ĝis 10mm kiel mikropartoj, kaj ĉi tiuj partoj estas difinitaj internacie kiel mezoskalaj partoj.La precizecaj postuloj de ĉi tiuj komponantoj estas relative altaj, ĝenerale je la mikrona nivelo, kaj la strukturo estas kompleksa, kaj la tradiciaj detektaj metodoj malfacilas renkonti la mezurajn bezonojn.Bildaj mezursistemoj fariĝis ofta metodo en la mezurado de mikrokomponentoj.Unue, ni devas bildigi la testatan parton (aŭ ĉefajn trajtojn de la testata parto) per optika lenso kun sufiĉa pligrandigo sur kongrua bildsensilo.Akiru bildon enhavantan la informojn de la mezurcelo, kiu plenumas la postulojn, kaj kolektu la bildon en la komputilon per la bild-akirkarto, kaj poste faru bildtraktadon kaj kalkulon per la komputilo por akiri la mezuran rezulton.
La bilda mezura teknologio en la kampo de mikropartoj ĉefe havas la jenajn evoluajn tendencojn: 1. Plue plibonigu la mezuran precizecon.Kun la kontinua plibonigo de la industria nivelo, la precizecaj postuloj por etaj partoj pliboniĝos, tiel plibonigante la precizecon de la mezura precizeco de bilda mezura teknologio.Samtempe, kun la rapida disvolviĝo de bildaj sensiloj, alt-rezoluciaj aparatoj ankaŭ kreas kondiĉojn por plibonigi sisteman precizecon.Krome, plia esplorado pri sub-piksela teknologio kaj super-rezolucia teknologio ankaŭ provizos teknikan subtenon por plibonigi sisteman precizecon.
2. Plibonigi mezuran efikecon.La uzo de mikropartoj en la industrio kreskas je la geometria nivelo, la pezaj mezuradoj de 100% en-liniaj mezuradoj kaj produktadmodeloj postulas efikan mezuradon.Kun la plibonigo de aparataro-kapabloj kiel komputiloj kaj la kontinua optimumigo de bildprilaboraj algoritmoj, la efikeco de bildaj mezurinstrumentaj sistemoj estos plibonigita.
3. Rimarku la konvertiĝon de la mikrokomponanto de la punkta mezura reĝimo al la ĝenerala mezurado.La ekzistanta bilda mezurinstrumenta teknologio estas limigita de la mezura precizeco, kaj esence bildigas la ŝlosilan trajton en la eta komponanto, por realigi la mezuradon de la ŝlosila trajtopunkto, kaj estas malfacile mezuri la tutan konturon aŭ la tutan trajton. punkto.
Kun la plibonigo de mezura precizeco, akiri kompletan bildon de la parto kaj atingi alt-precizecan mezuradon de la ĝenerala forma eraro estos uzata en pli kaj pli da kampoj.
Resume, en la kampo de mikro-komponenta mezurado, la alta efikeco de altpreciza bilda mezurado-teknologio neeviteble fariĝos grava disvolva direkto de precizeca mezura teknologio.Tial, la bild-akira aparataro-sistemo akiris pli altajn postulojn por bildkvalito, bildranda poziciigado, sistemkalibrado ktp., kaj havas larĝajn aplikajn perspektivojn kaj gravan esplorsignifon.Tial, ĉi tiu teknologio fariĝis esplora retpunkto hejme kaj eksterlande, kaj fariĝis unu el la plej gravaj aplikoj en vida inspekta teknologio.
Afiŝtempo: majo-16-2022