Horizontala Mana Du-Dimensia Bilda Mezurinstrumento

Kun mana fokuso, la pligrandigo povas esti ŝaltita kontinue.
Kompleta geometria mezurado (plurpunkta mezurado por punktoj, linioj, cirkloj, arkoj, ortanguloj, kaneloj, plibonigo de mezurprecizeco, ktp.).
La aŭtomata funkcio por trovi randojn de bildo kaj serio da potencaj bildmezuriloj simpligas la mezurprocezon kaj faras la mezuradon pli facila kaj efika.
Subtenas potencan mezuradon, oportunan kaj rapidan funkcion de piksela konstruado, uzantoj povas konstrui punktojn, liniojn, cirklojn, arkojn, ortangulojn, kanelojn, distancojn, intersekcojn, angulojn, mezpunktojn, mezliniojn, vertikalojn, paralelojn kaj larĝojn simple alklakante grafikaĵojn.
La mezuritaj pikseloj povas esti translokigitaj, kopiitaj, rotaciitaj, aranĝitaj, spegulitaj, kaj uzataj por aliaj funkcioj. La tempo por programado povas esti mallongigita kaze de granda nombro da mezuroj.
La bildaj datumoj de la mezurhistorio povas esti konservitaj kiel SIF-dosiero. Por eviti diferencojn en la mezurrezultoj de malsamaj uzantoj en malsamaj tempoj, la pozicio kaj metodo de ĉiu mezurado por malsamaj aroj da objektoj devas esti la samaj.
La raportdosieroj povas esti eligitaj laŭ via propra formato, kaj la mezurdatumoj de la sama laborpeco povas esti klasifikitaj kaj konservitaj laŭ la mezurtempo.
Pikseloj kun mezurmalsukceso aŭ ekster toleremo povas esti aparte re-mezuritaj.
La diversaj metodoj de agordo de koordinatsistemoj, inkluzive de koordinata translacio kaj rotacio, redifino de nova koordinatsistemo, modifo de koordinata origino kaj koordinata vicigo, faras la mezuradon pli oportuna.
La formo- kaj pozicia toleremo, toleremo-eligo kaj diskriminacia funkcio povas esti agorditaj, kiuj povas alarmi la nekvalifikitan grandecon en la formo de koloro, etikedo, ktp., permesante al uzantoj juĝi datumojn pli rapide.
Kun 3D-vido kaj vida havena ŝaltilfunkcio de labora platformo.
Bildoj povas esti eligitaj kiel JPEG-dosiero.
La funkcio de pikselaj etikedoj ebligas al uzantoj trovi mezurajn pikselojn pli rapide kaj oportune dum mezurado de granda nombro da pikseloj.
La aro da pikselaj prilaboradoj povas elekti la bezonatajn pikselojn kaj rapide efektivigi la program-instruadon, historio-restarigon, piksel-alĝustigon, daten-eksportadon kaj aliajn funkciojn.
Diversaj ekranreĝimoj: Lingvoŝanĝo, metriko/colo-unuoŝanĝo (mm/colo), angulkonverto (gradoj/minutoj/sekundoj), agordo de decimala punkto de montrataj nombroj, koordinatsistemoŝanĝo, ktp.
La programaro estas senjunte konektita kun EXCEL, kaj la mezurdatumoj havas la funkciojn de grafika presado, datendetaloj kaj antaŭrigardo. Datenraportoj povas ne nur esti presitaj kaj eksportitaj al Excel por statistika analizo, sed ankaŭ eksportitaj laŭ la postuloj de la klienta raporto.
La sinkrona operacio de inversa inĝenieristika funkcio kaj CAD povas realigi la konverton inter programaro kaj AutoCAD-inĝenieristika desegnaĵo, kaj rekte taksi la eraron inter la laborpeco kaj la inĝenieristika desegnaĵo.
Personigita redaktado en la desegna areo: punkto, linio, cirklo, arko, forigi, tranĉi, etendi, oblikva angulo, tangenta punkto de cirklo, trovi la centron de la cirklo per du linioj kaj radiuso, forigi, tranĉi, etendi, MALFARI/RIFARI. Dimensiaj prinotoj, simplaj CAD-desegnaj funkcioj kaj modifoj povas esti rekte faritaj en la superrigarda areo.
Per homigita dosieradministrado, ĝi povas konservi la mezurdatumojn kiel Excel, Word, AutoCAD kaj TXT dosierojn. Krome, la mezurrezultoj povas esti importitaj en profesian CAD-programaron en DXF kaj rekte uzataj por disvolviĝo kaj dezajno.
La formato de la elira raporto de pikselaj elementoj (kiel centraj koordinatoj, distanco, radiuso ktp.) povas esti agordita en la programaro.